Оптический микроскоп C11222-16

для контроляближний ИК-спектрс цифровой камерой

PHEMOS-1000 - это эмиссионный микроскоп с высоким разрешением, который определяет места неисправностей в полупроводниковых приборах, выявляя слабые световые и тепловые излучения, вызванные дефектами полупроводниковых приборов. Так как PHEMOS-1000 может использоваться в сочетании с универсальным пробером, Вы можете выполнять различные задачи анализа, используя уже знакомые Вам образцы настроек. Установка дополнительной системы лазерного сканирования позволяет получать изображения образцов с высоким разрешением. Доступны различные типы детекторов для различных методов анализа, таких как эмиссионный, тепловой и ИК-ОБИРХ-анализ. PHEMOS-1000 поддерживает широкий спектр задач и применений, начиная от проберных гнездовых плат и заканчивая крупногабаритным 300-миллиметровым пробером пластин. Особенности - Два ультра-высокочувствительных камеры монтируются - Монтаж лазеров с длиной волны до 3-х волн и источника света для ЭОП - Оснащен оптической сценой, подходящей для различных образцов Варианты - Включает в себя систему лазерного сканирования - Эмиссионный анализ с высокочувствительной ближней инфракрасной камерой - Тепловой анализ с высокочувствительной среднеинфракрасной камерой - ИК-ОБИРАХ-анализ - Динамический анализ с помощью лазерного излучения - анализ зондовых измерений - Анализ высокого разрешения и высокой чувствительности с использованием NanoLens - Подключается к CAD-навигации - Подключается к тестеру LSI