Оптический микроскоп C15765-01

для лабораторийдля контроляинвертированный

PHEMOS-X - это эмиссионный микроскоп высокого разрешения, позволяющий точно определять места сбоев в полупроводниковых устройствах путем обнаружения слабого светового излучения и теплового излучения, вызванного дефектами. Возможна установка двух сверхвысокочувствительных камер Охват различных диапазонов длин волн обнаружения для эмиссионного и теплового анализа позволяет легко выбрать метод анализа, соответствующий образцу и режиму отказа. Возможность установки до 5 источников света для OBIRCH, DALS и EOP Высокоточная ступень, разработанная для современных устройств PHEMOS-X накладывает эмиссионное изображение на изображение образца с высоким разрешением для быстрой локализации точек дефектов. Функция повышения контрастности делает изображение более четким и детальным. Функция отображения Аннотации: Комментарии, стрелки и другие индикаторы могут отображаться на изображении в любом нужном месте. Отображение масштаба: Ширина шкалы может быть отображена на изображении с помощью сегментов. Отображение сетки: На изображении можно отображать вертикальные и горизонтальные линии сетки. Отображение эскизов: Изображения можно сохранять и вызывать в виде эскизов, а также отображать информацию об изображении, например, координаты сцены. Отображение разделенного экрана: Изображения паттерна, эмиссионные изображения, наложенные изображения и эталонные изображения могут быть отображены на экране в 6 окнах одновременно.