Работает от видимого света до ближнего инфракрасного излучения с помощью одного устройства, оснащенного лазером с несколькими длинами волн
IPHEMOS®-MPX - это эмиссионный микроскоп высокого разрешения, позволяющий точно определять места повреждения в полупроводниковых приборах путем обнаружения слабого светового излучения и теплового излучения, вызванного дефектами.
iPHEMOS является зарегистрированной торговой маркой компании Hamamatsu Photonics K.K. (Япония).
Характеристики
Возможность установки двух сверхвысокочувствительных камер
Охват различных диапазонов длин волн детектирования для эмиссионного и термического анализа позволяет легко выбрать метод анализа, соответствующий образцу и режиму разрушения.
Возможность установки до 4 источников света для OBIRCH, DALS, EOP и лазерного маркера
Высокочувствительная макролинза и до 10 линз, подходящих для каждой длины волны чувствительности детектора
Высокоточная ступень, разработанная для передовых устройств
Основные функции дисплея
Функция наложенного отображения/усиления контраста
IPHEMOS-MPX накладывает эмиссионное изображение на изображение образца с высоким разрешением для быстрой локализации точек дефектов.
Функция повышения контрастности делает изображение более четким и детальным.
Функция отображения
Аннотации: Комментарии, стрелки и другие индикаторы можно отображать на изображении в любом нужном месте.
Отображение масштаба: Ширина шкалы может быть отображена на изображении с помощью сегментов.
Отображение сетки: На изображении можно отображать вертикальные и горизонтальные линии сетки.
Отображение миниатюр: Изображения можно сохранять и вызывать в виде миниатюр, а также отображать информацию об изображении, например координаты сцены.
Отображение разделенного экрана: Изображения паттерна, эмиссионные изображения, наложенные изображения и эталонные изображения могут быть отображены в 6 окнах одновременно.
---