Системы контроля с полупроводниками

... Новый продукт, полностью автоматизированная система контроля тонких пленок "Xtrology "*1, позволил проводить такие важные проверки, как измерение толщины пленки, анализ дефектов и состава различных пластин с помощью одного прибора. В ...

... Благодаря опциональной двухтрубной установке ККТ FF35 сочетает в себе беспрецедентное качество данных КТ с высочайшей универсальностью при контроле малых и средних деталей. - Конфигурация с одной или двумя трубками для максимальной универсальности ...

... Спецификация испытаний Контроль высоты петли: ±50 мкм Испытательный образец Контроль высоты чипа: ±10 мкм Коммунальные услуги AC220V, 3 фазы, 60 Гц ...

Широко применяется для BGA, CSP, флип-чипов, светодиодов, предохранителей, диодов, печатных плат, полупроводников, аккумуляторной промышленности, мелкого литья металла, электронных соединительных модулей, кабелей, фотоэлектрической промышленности ...

... Quadra™ 5 - это рентгеновская инспекционная система для субмикронных применений, таких как контроль печатных плат и полупроводниковых корпусов, отбор контрафактных компонентов и контроль качества готовой продукции. Оцените мельчайшие ...

... Электронное оборудование для тестирования полупроводников X-8000 может быть использовано для обнаружения полупроводниковых микросхем интегральных схем, таких как BGA, IGBT, flip-chip и сварки компонентов PCBA, высокоточного тестирования ...