- Метрология - Лабораторное дело >
- Проверка и Наблюдение >
- Система контроля с полупроводником
Системы контроля с полупроводниками
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... DI2800 использует технологию моделирования интенсивности рассеяния для оптимизации оптики освещения и обнаружения, что позволяет проводить высокочувствительный контроль дефектов узорчатых пластин, возникающих в процессе производства. ...
... Благодаря опциональной двухтрубной установке ККТ FF35 сочетает в себе беспрецедентное качество данных КТ с высочайшей универсальностью при контроле малых и средних деталей. - Конфигурация с одной или двумя трубками для максимальной универсальности ...
... Quadra™ 5 - это рентгеновская инспекционная система для субмикронных применений, таких как контроль печатных плат и полупроводниковых корпусов, отбор контрафактных компонентов и контроль качества готовой продукции. Оцените мельчайшие ...
... Электронное оборудование для тестирования полупроводников X-8000 может быть использовано для обнаружения полупроводниковых микросхем интегральных схем, таких как BGA, IGBT, flip-chip и сварки компонентов PCBA, высокоточного тестирования ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось