Массовые спектрометры CAMECA

... непревзойденные возможности профилирования по глубине с высоким разрешением по глубине и высоким динамическим диапазоном. Масс-спектрометр с высокой трансмиссией объединен с двумя источниками активных ионов высокой плотности, ...

... измерений соотношений стабильных изотопов. Система с двумя цилиндрами Фарадея объединена с системой быстрого переключения массовых пиков (до 0,3 с при высокой разрешающей способности по массам) для получения дополнительных ...

Ионный микрозонд с увеличенной геометрией для геологических наук IMS 1300-HR³ представляет собой ионный микрозонд с увеличенной геометрией, обеспечивающий непревзойденную аналитическую производительность для широкого ряда применений ...

Микрозонд ВИМС для изотопного и микроэлементного анализа при высоком пространственном разрешении NanoSIMS 50L – уникальный ионный микрозонд, оптимизирующий технические возможности ВИМС-анализа при высоком разрешении по плоскости. Он ...

Квадрупольный ВИМС – профилирование легирующих примесей по глубине и тонкослойный анализ полупроводников CAMECA SIMS 4550 предоставляет расширенные возможности для мелкого профилирования по глубине, измерения минорных элементов и измерения ...

... достижения IMS 1300-HR³, уникальным образом сочетая высокую воспроизводимость с высоким пространственным разрешением и высоким массовым разрешением. Охватывая весь спектр U-Pb геохронологических приложений, от точного ...

... SIMS-измерениях в современных полупроводниках. Обладая большим диапазоном энергий воздействия (от 100 эВ до 10 кэВ) без ущерба для массового разрешения и плотности первичного пучка, они обеспечивают непревзойденные аналитические ...

... Полностью автоматизированная система SIMS для крупносерийного производства полупроводников Инструмент AKONIS SIMS заполняет критический пробел в процессах производства полупроводников, обеспечивая высокую производительность, высокую ...