Испытательная система для теплового цикла SM-ZOV665-W5(10)K

функциональная защитадля старениярабочих характеристик

Двухдверная система SANWOOD для динамического выжигания интегральных схем и испытаний на долговечность при высоких температурах (HTOL) Система SANWOOD SM-ZOV665-W5(10)K объединяет две нагреваемые камеры с программируемыми схемами электрических испытаний для параллельного динамического выжигания и испытаний на долговечность при высоких температурах (HTOL). Каждая камера вмещает 16 горизонтально установленных плат для выжигания (BIB), что в сумме составляет 32 слота для плат. Основные характеристики Программируемые тестовые векторы проверяют работу интегральных схем под напряжением при повышенных температурах. Изоляция на уровне слотов и защита от перегрузки по току помогают локализовать неисправности во время параллельного тестирования. Горизонтальный воздушный поток через стойки с платами способствует распределению тепла при нагрузке с питанием. Технические характеристики Модель — SM-ZOV665-W5(10)K, конфигурация с двумя дверцами Диапазон температур в камере — от температуры окружающей среды до 150 °C Вместимость BIB — всего 32 слота, по 16 на камеру Размер BIB — 450 × 570 мм Количество сигнальных каналов — всего 184, включая 160 общих каналов драйвера и 24 канала ввода-вывода Максимальная частота повторения системы — 20 МГц Векторная память — 64 млн слов Емкость журнала ошибок — 2 К на канал ввода-вывода Источник питания устройств — 8 каналов на каждый BIB в конфигурации по умолчанию Внутренние размеры каждой камеры (Ш × В × Г) — 800 × 1 320 × 630 мм Габаритные размеры (Ш × В × Г) — 3 160 × 2 470 × 1 600 мм Индивидуальная настройка Внутренние размеры камеры и конфигурации испытательных стоек могут быть адаптированы с учётом размеров ваших плат, расстояния между ними и требований к загрузке. Области применения и примеры испытаний Предназначена для параллельного тестирования на надежность автомобильных систем-на-кристалле (SoC), микроконтроллеров, ускорителей искусственного интеллекта, микросхем памяти и микросхем управления питанием. В зависимости от устройства и плана испытаний соответствующие стандарты включают JEDEC JESD22-A108 для HTOL, AEC-Q100 Test B1 для HTOL автомобильных интегральных схем и MIL-STD-883 Method 1015 для выжигания микросхем. Для получения предложения по конфигурации сообщите тип вашего устройства, чертежи BIB, целевую пропускную способность, тепловую нагрузку при работе и профиль испытаний. Страница продукта — https://www.sanwood.us/products/188.html Электронная почта — [email protected]