Испытательная система для теплового цикла SM-ZOV665-W5K

функциональная защитадля старениярабочих характеристик

Однодверная система SANWOOD для динамического выжигания интегральных схем и испытаний на долговечность при высоких температурах (HTOL) Система SANWOOD SM-ZOV665-W5K сочетает в себе камеру с регулируемой температурой и программируемые схемы электрических испытаний для динамического выжигания и испытаний на долговечность при высоких температурах (HTOL). Она обеспечивает нагрузку на включённые в питание интегральные схемы, размещённые на платах для выжигания (BIB), при повышенных температурах, что позволяет инженерам отслеживать поведение устройств во время термических и электрических нагрузок. Основные характеристики Программируемые тестовые векторы для проверки логических элементов и памяти интегральных схем во время выжигания Изоляция питания на уровне слотов и программируемые ограничения тока Регистрация напряжения, тока и температуры по каждому слоту для анализа отказов Технические характеристики Модель — SM-ZOV665-W5K, конфигурация с одной дверью Диапазон температур в камере — от температуры окружающей среды ±10 °C до ±150 °C Вместимость платы для выжигания — 16 слотов Размер платы для выжигания — 450 × 570 мм Сигнальные каналы — всего 184, включая 160 общих драйверных каналов и 24 канала ввода-вывода Максимальная частота повторения системы — 20 МГц Объем векторной памяти — 64 млн слов Емкость журнала ошибок — 2 кБ на каждый канал ввода-вывода Источник питания устройств — 8 каналов на каждую плату BIB в конфигурации по умолчанию Внутренние габариты (Ш × В × Г) — 800 × 1 320 × 630 мм Внешние габариты (Ш × В × Г) — 1 920 × 2 287 × 1 600 мм Индивидуальная настройка Внутренние размеры камеры и конфигурации испытательных стоек могут быть адаптированы с учётом размеров ваших BIB, расстояния между платами и требований к загрузке. Области применения и примеры испытаний Подходит для отборочного выжигания и оценки срока службы автомобильных SoC, микроконтроллеров, ускорителей искусственного интеллекта, микросхем памяти и микросхем управления питанием. В зависимости от устройства и плана испытаний соответствующими стандартами являются JEDEC JESD22-A108 для HTOL, AEC-Q100 Test B1 для HTOL автомобильных интегральных схем и MIL-STD-883 Method 1015 для выжигания микросхем. Для получения предложения по конфигурации сообщите тип вашего устройства, чертежи BIB, электрическую нагрузку и требуемый профиль испытаний. Страница продукта — https://www.sanwood.us/products/189.html Электронная почта — [email protected]