Микроскоп для анализа материалов DM1750 M
оптическийдля контроляпрямой

Микроскоп для анализа материалов - DM1750 M - Leica Microsystems GmbH - оптический / для контроля / прямой
Микроскоп для анализа материалов - DM1750 M - Leica Microsystems GmbH - оптический / для контроля / прямой
Микроскоп для анализа материалов - DM1750 M - Leica Microsystems GmbH - оптический / для контроля / прямой - изображение - 2
Микроскоп для анализа материалов - DM1750 M - Leica Microsystems GmbH - оптический / для контроля / прямой - изображение - 3
Микроскоп для анализа материалов - DM1750 M - Leica Microsystems GmbH - оптический / для контроля / прямой - изображение - 4
Микроскоп для анализа материалов - DM1750 M - Leica Microsystems GmbH - оптический / для контроля / прямой - изображение - 5
Микроскоп для анализа материалов - DM1750 M - Leica Microsystems GmbH - оптический / для контроля / прямой - изображение - 6
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
оптический
Применение
для контроля, для анализа материалов
Эргономика
прямой
Другие характеристики
для больших проб

Описание

Сосредоточившись на задачах в лаборатории материалов или на исследованиях Новый микроскоп Leica DM1750 M - это материальный микроскоп, предназначенный для быстрого и точного анализа даже в тяжелых условиях окружающей среды. Работая с Leica DM1750 M, вы увидите, насколько простой и надежной может быть микроскопия. Его прочная конструкция содержит отличную оптическую систему и позволяет исследовать даже более крупные образцы в ярком поле, наклонной поверхности или с помощью поляризованного света. Вся подсветка отраженным светом выполняется с помощью Power-LED, которые позволяют проводить осмотр с различными углами освещения, особенно подходящими для обнаружения микроцарапин или получения информации о высоте. Основные характеристики Идеальный свет Светодиодная подсветка вместе со встроенной диафрагмой с регулируемой диафрагмой для отраженного света обеспечивает холодный белый свет со средним сроком службы более 20 лет, экономя затраты на замену ламп. Изменение точности увеличения 6- или 7-позиционный носовой наконечник для быстрой и простой замены объективного увеличения позволяет проводить осмотр образцов высотой до 80 мм. Высокоточная обработка носовых наконечников обеспечивает центрирование всех используемых объективов. Смотрите больше с косой подсветкой Для наклонной подсветки ваших образцов эргономично расположенная мембранная клавиатура позволяет легко, интуитивно понятно управлять всеми 4 светодиодными сегментами траектории луча. Сверхтвердые керамические поверхности Поверхность наших промышленных ступеней включает в себя новый керамический материал с невиданной ранее твердостью. Он был специально разработан для требований сверхпрочного промышленного использования в течение многих лет, что позволило сэкономить время и деньги.

---

Каталоги

Leica DM1750 M
Leica DM1750 M
12 Страницы
Leica DM2700 M
Leica DM2700 M
12 Страницы

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

Control 2025
Control 2025

6-09 мая 2025 Stuttgart (Германия) Зал 9 - Стенд 9508

  • Дополнительная информация
    EPHJ

    3-06 июн. 2025 Geneva (Швейцария)

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.