Оптическая измерительная система C10178-03E

толщинас универсальным калибромдля пленки

Оптическая система измерения толщины наногаука C10178 представляет собой бесконтактную систему измерения толщины пленки с использованием спектральной интерферометрии. Толщина пленки измеряется быстро с высокой чувствительностью и высокой точностью посредством спектральной интерферометрии. В нашей продукции в качестве детекторов используется многоканальный спектрометр PMA, который позволяет измерять квантовые выходы, отражение, передачу/поглощение и различные другие точки, одновременно измеряяя толщину различных оптических фильтров и пленок покрытия и многое другое. Особенности - Высокая скорость и точность (Диапазон измерения толщины пленки (стекло): 150 nm～50 μm) - Измерение в реальном времени - Точное измерение колеблющейся пленки - Анализировать оптические константы (n, k) - Внешний контроль доступен - Квантовый выход, отражение, пропускание и поглощение могут быть измерены с помощью специальных принадлежностей Спецификации Номер типа: C10178-03E Модели измерения (особенности) : поддерживает БИК Диапазон измеряемой толщины пленки (стекло): от 150 нм до 50 мкм*1 Воспроизводимость измерений (стекло) : 0,05 нм*2 *3 Точность измерения (стекло) : ±0,4 %*3 *4 Источник света : Источник света галоида Длина волны измерения: от 900 нм до 1650 нм Размер пятна: Приблизительно φ1 мм*3 Рабочее расстояние: 10 мм*3 Количество измеряемых слоев : макс. 10 слоев Анализ : БПФ-анализ, анализ посадки, оптический постоянный анализ Время измерения: 19 мс/точка*5 Форма волоконного разъема : φ12 форма втулки Внешняя функция управления : RS-232C, PIPE, Ethernet Источник питания : AC200 В до AC240 В, 50 Гц/60 Гц Потребляемая мощность: прибл. 230 ВА