Измерительная система толщина C10323-02

оптическаядля пленкивысокоскоростная

Оптическая система измерения толщины наноманометра C10323 представляет собой микроскопическую систему измерения толщины. Объекты с неровными поверхностями, которые могли бы производить высокий уровень рассеянного света, не могут быть измерены на макроуровне. Для таких типов объектов измерение небольшой площади снижает уровень рассеянного света, что делает измерение возможным. Напряжение питания C10323-02 составляет от 100 до 120 В переменного тока. Особенности - Измерение толщины в микрополе зрения - Высокая скорость и высокая точность - Анализировать оптические константы (n, k) - Внешний контроль доступен Спецификации Номер типа: C10323-02 Диапазон измеряемой толщины пленки (стекло): от 20 нм до 50 мкм① Воспроизводимость измерений (стекло): 0,02 нм ② Точность измерения (стекло) : ±0,4 %③ Источник света : Источник света галоида Длина волны измерения: от 400 нм до 1100 нм Размер пятна : φ8 μm на φ80 μm④ Рабочее расстояние : См. список объективов Количество измеряемых слоев : макс. 10 слоев Анализ : БПФ-анализ, анализ посадки, оптический постоянный анализ Внешняя функция управления : RS-232C, PIPE, Ethernet Интерфейс: USB 2.0 Источник питания : AC100 V к AC120 V, 50 Гц/60 Гц Потребляемая мощность: прибл. 250 ВА