Оптоцифровой микроскоп WF7915MZTL

для контролядля измеренийполяризационный

WF7915MZTL входит в линейку биноклей с большим рабочим расстоянием (LWD). Благодаря большому рабочему расстоянию и диапазону увеличений от 10 до 140x он подходит для широкого спектра задач, где требуется дополнительное расстояние до объекта или большее поле зрения. Функция расширенного динамического диапазона (EDR) позволяет выявить детали более темных или более светлых участков объекта путем суммирования изображений с разными уровнями экспозиции. Функция расширенной глубины резкости (EDOF) автоматически складывает изображения с разным уровнем фокусировки для улучшения глубины резкости на шероховатых или неровных поверхностях. Функция AMR особенно важна при частом использовании измерительных функций. Благодаря встроенному поляризационному фильтру эта модель идеально подходит для работы с блестящими или отражающими объектами, такими как металл, пластик, стекло, ювелирные изделия, электроника и т. д. Основными особенностями WF7915MZTL являются: - 5-мегапиксельная матрица Edge - Увеличенная глубина резкости (EDOF) - Расширенный динамический диапазон (EDR) - Большое рабочее расстояние - Автоматическое считывание увеличения (AMR) - Регулируемый поляризатор - Гибкое управление светодиодами (FLC) - И многое другое... Спецификация Освещение Тип освещения/ светодиодов - белый Количество светодиодов - 8 Включение/выключение светодиодов: - Да Инфракрасный фильтр - IR cut-фильтр >650 нм Наличие рассеивателя - Да (N3C-D в комплекте) Эмиссионный фильтр - Нет Поляризатор - Да, линейный Оптика Макрозум - Нет Рабочее расстояние - Большое Тип объектива - Стекло с антибликовым покрытием Сенсор Тип матрицы - CMOS Разрешение - 5,0 мегапикселей (2592x1944) Максимальная частота кадров - 30 к/с