Оптоцифровой микроскоп AF7915MZTL

для контролядля измеренийполяризационный

AF7915MZTL входит в линейку биноклей с большим рабочим расстоянием (LWD). Благодаря большому рабочему расстоянию и диапазону увеличений от 10 до 140x, он подходит для широкого спектра применений, где требуется дополнительное расстояние до объекта или большее поле зрения. Функция расширенного динамического диапазона (EDR) позволяет выявить детали более темных или более светлых участков объекта путем суммирования изображений с разными уровнями экспозиции. Функция расширенной глубины резкости (EDOF) автоматически складывает изображения с разным уровнем фокусировки для улучшения глубины резкости на шероховатых или неровных поверхностях. Функция AMR особенно важна при частом использовании измерительных функций. Благодаря встроенному поляризационному фильтру эта модель идеально подходит для работы с блестящими или отражающими объектами, такими как металл, пластик, стекло, ювелирные изделия, электроника и т. д. Основными особенностями AF7915MZTL являются: - 5-мегапиксельный датчик Edge - Увеличенная глубина резкости (EDOF) - Расширенный динамический диапазон (EDR) - Увеличение 10-140x - Большое рабочее расстояние - Автоматическое считывание увеличения (AMR) - Регулируемый поляризатор - Гибкое управление светодиодами (FLC) Готовность к беспроводной связи - И многое другое...