Микроскоп с разверткой зонда EIKOS-UV™

для исследований3D

Атомный зонд, обеспечивающий рутинный и высокопроизводительный 3D-наноанализ для научных исследований и промышленности Основываясь на 30-летнем опыте создания и применения приборов для атомно-зондовой томографии, компания CAMECA разработала EIKOS-UV™ - атомно-зондовый микроскоп для быстрого создания сплавов и исследования наноразмерных материалов. Атомный зонд EIKOS предлагает: Трехмерная томография с наноразмерной характеристикой микроструктур Детектирование одиночных атомов с высоким пространственным разрешением и высокой эффективностью Одинаковая чувствительность ко всем элементам и их изотопам Количественное измерение состава (от суб-нм до почти микронного масштаба) Доступны конфигурации с напряжением или напряжением и лазером Стандартные методы подготовки образцов EIKOS выпускается в двух конфигурациях: В базовой системе EIKOS используется рефлекторная конструкция, обеспечивающая превосходную разрешающую способность по массе и соотношение сигнал/шум. Предварительно выровненный встроенный счетный электрод обеспечивает простоту использования и высокую надежность. Система импульсов напряжения обеспечивает очень высокое качество данных для широкого спектра металлургических применений. Полностью сконфигурированная система EIKOS-UV сочетает в себе все выдающиеся характеристики базовой модели EIKOS (импульсное напряжение, рефлекторная функциональность, предварительно выровненный встречный электрод) и добавляет полностью интегрированный модуль лазерных импульсов 355 нм с компьютерным управлением фокусировкой пятна для обеспечения доступа к более широкому спектру приложений. Базовая система EIKOS может быть модернизирована в полевых условиях до EIKOS-UV.