Системы позиционирования для микроскопии

Повторяемость: 0,3 µm - 2,5 µm
Нагрузка: 5 kg - 20 kg
Ход: 100 mm - 720 mm

... Двойной инспекционный портал XYZ для полупроводников Настраиваемый - Идеально подходит для автоматизированного контроля полупроводниковых пластин / полупроводников - Очень большой диапазон перемещения 2 x 720 x 720 x 100 мм каждый - ...

Повторяемость: 0,01 µm - 2,5 µm
Скорость: 5 mm/s - 35 mm/s

... Настраиваемый: - Идеально подходит для разработки и настройки высокоточных 3D-процессов в медицине, биотехнологии и полупроводниковой технике - Сверхтонкое изображение деталей и более высокие уровни масштабирования благодаря стабильности ...

Повторяемость: 0,3 µm - 0,4 µm
Ход: 100 mm - 200 mm
Скорость: 15 mm/s - 25 mm/s

... Система XYZ с контроллером Возможность настройки: - Идеально подходит для настройки и расширения вашего приложения - Высокоточная повторяемость до 0,3 мкм - Малейшие шаги и высочайшая надежность при сравнительно высокой скорости позиционирования ...

Повторяемость: 0,3 µm - 0,7 µm
Ход: 200 mm
Скорость: 15 mm/s - 25 mm/s

... Микроскопическая и инспекционная станция XYZ для высокого разрешения Настраиваемая: - Идеально подходит для контроля образцов - Высокая точность повторяемости до 0,3 мкм - Снижение отклонений измерений до менее чем 3 мкм Эта 3-осевая ...

Повторяемость: 0,8 µm - 4 µm
Нагрузка: 1 kg
Ход: 25 mm - 25 mm

... MP63-3 Миниатюрная система позиционирования XYZ, картезианская Настраиваемая: - очень высокое разрешение - идеально подходит для ограниченного строительного пространства - грузоподъемность до 10 Н - более точная регулировка благодаря ...