Система позиционирования XYZ 782481:001.26
портальнаядля контроля полупроводниковых пластин и метрологиидля микроскопии

Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 2
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 3
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 4
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 5
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 6
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 7
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 8
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 9
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 10
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 11
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 12
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 13
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 14
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 15
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 16
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 17
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 18
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 19
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 20
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 21
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 22
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 23
Система позиционирования XYZ - 782481:001.26 - Steinmeyer Mechatronik GmbH - портальная / для контроля полупроводниковых пластин и метрологии / для микроскопии - изображение - 24
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Количество осей
XYZ
Конструкция
портальная
Место применения
для контроля полупроводниковых пластин и метрологии, для микроскопии
Другие характеристики
с большим отверстием, с воздушным амортизатором, с шариковым винтом, с шаговым двигателем
Повторяемость

2,5 µm, 4,5 µm, 5,5 µm, 6,5 µm

Описание

Портал XYZ AFM для контроля пластин, микроскопии | перемещение до 550 x 1550 мм | воздушный подшипник, шариковинтовая пара, ремень, шаговый двигатель Высокостабильный портал для АСМ на воздушном подшипнике с большим диапазоном перемещения Этот очень жесткий XYZ портал специально разработан для высокоточной атомно-силовой микроскопии (АСМ) для исследования особо крупных стеклянных образцов. Над U-образной платформой для образца находится подвижная консоль по оси Z для специализированного АСМ. Кантилевер может быть точно выровнен по образцу и перемещен в любую точку U-образной формы для получения рельефа поверхности. Воздушный подшипник обеспечивает превосходную точность позиционирования в плоскости. Максимальный вес образца составляет 500 кг. Атомная стабильность для сложных измерений - Идеально подходит для высокожестких и точных измерений без влияния вибрации - Высокая пропускная способность благодаря ходам 150 x 275 x 50 мм, с возможностью расширения до 550 x 1550 x 50 мм - Исключительная стабильность при остановке 5 нм и выше - Выдающийся долгий срок службы благодаря использованию неизнашиваемых воздушных подшипников Возможность расширения: - Интеграция дополнительных датчиков в процесс - Индивидуальная адаптация траекторий перемещения, комбинации длин, кабелей и системы управления - Ножки для дополнительной защиты от вибрации здания - Варианты исполнения для чистых помещений ISO 14644-1 (до класса 1 по запросу) - Соединения для вытяжки - Специальная конфигурация для биотехнологий, медицинской техники, фармацевтики, полупроводников - Опционально с предварительно настроенным контроллером, включая образцовое программное обеспечение для немедленного использования

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Steinmeyer Mechatronik GmbH

Другие изделия Steinmeyer Mechatronik GmbH

Multi Axes Systems: Gantry, Portal, Laboratory Stages

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.