＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Обзор продукта FTI‑1000 Wafer HV — это система ATE уровня wafer для тестирования с высокой покрываемостью дискретных силовых приборов и wide‑bandgap‑технологий. Вариант Wafer HV оснащён источниками высокого напряжения DC/AC и предназначен для single‑site ...
UHV-341 — переносной тестер Tan Delta (коэффициент рассеяния), предназначенный для диагностики ухудшения изоляции из‑за влаги и локальных дефектов в трансформаторах и электрооборудовании. Применяется при производстве, монтаже, приёмке и профилактических ...
... Система тестирования C-V характеристик полупроводниковых силовых приборов Измерения емкость-напряжение (C-V) широко используются для измерения параметров полупроводников, особенно МОП- и МОП-структур. Емкость МОП-структуры (металл-оксид-полупроводник) ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки