＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Вес: 17 kg
Длина: 490 mm
Ширина: 251 mm
... исследований на компактном микроскопе. Nikon ECLIPSE LV100N POL и Ci-POL Эти приборы оснащены эпископическим и диаскопическим освещением для минералогического изучения грубых или тонких срезов. Оптически активные материалы ...
Nikon Metrology
Вес: 9,5 kg
Длина: 362 mm
Ширина: 251 mm
... анализа. Универсальная конструкция микроскопа позволяет совмещать на одной стойке микроскопа дополнительные методы оптического контраста благодаря модульной программе компонентов. Nikon ECLIPSE LV100NDA ...
Nikon Metrology
Увеличение : 1 unit - 100 unit
Длина: 295 mm
Ширина: 215 mm
... на одной стойке микроскопа дополнительные методы оптического контраста благодаря модульной программе компонентов. Nikon ECLIPSE MA200 Инвертированный микроскоп с эпископическим освещением для контроля ...
Nikon Metrology
Вес: 10 kg
Длина: 552 mm
Ширина: 229 mm
... компактный, модульный инвертированный микроскоп для эпископических методов оптического контраста в сочетании с аксессуарами для цифровых камер обработки изображений. Он идеально подходит для контроля металлургических ...
Nikon Metrology
Увеличение : 5 unit - 100 unit
Вес: 14 kg
Длина: 271 mm
... исследований на компактном микроскопе. Nikon ECLIPSE LV100N POL и Ci-POL Эти приборы оснащены эпископическим и диаскопическим освещением для минералогического изучения грубых или тонких срезов. Оптически активные материалы ...
Nikon Metrology
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось