Микроскоп SEM Sigma​ series

для анализовдля контролядля материалов

Семейство ZEISS Sigma сочетает в себе технологию полевого эмиссионного сканирующего электронного микроскопа (FE-SEM) с превосходным пользовательским интерфейсом. Структурируйте свои процедуры получения изображений и анализа и повысьте производительность. Изучайте новые материалы, частицы для проверки качества, биологические или геологические образцы. Не идите на компромиссы при получении изображений высокого разрешения - перейдите на низкие напряжения и получите преимущества улучшенного разрешения и контрастности при напряжении 1 кВ и ниже. Выполняйте передовую аналитическую микроскопию с использованием лучшей в своем классе геометрии EDS и получайте аналитические данные в два раза быстрее и с большей точностью С семейством Sigma вы входите в мир высококлассного наноанализа. Sigma 360 - выбор основных специалистов по визуализации - интуитивно понятный FE-SEM для визуализации и аналитики. Sigma 560 использует лучшую в своем классе геометрию EDS, обеспечивая высокую производительность анализа и позволяя проводить автоматизированные эксперименты in situ. Выбор основного центра. Интуитивно понятное получение данных. От настройки до получения результатов на основе искусственного интеллекта. Откройте для себя интуитивно понятный рабочий процесс получения изображений. Почувствуйте разницу при напряжении 1 кВ и ниже. Добейтесь повышенного разрешения и оптимизированного контраста. Выполняйте визуализацию VP в экстремальных условиях для достижения превосходных результатов на непроводниках. Аналитика с высокой пропускной способностью. Автоматизированные эксперименты in situ. Эффективный анализ реальных образцов: Быстрый и универсальный анализ на основе СЭМ. Автоматизируйте эксперименты in situ: Полностью интегрированная лаборатория для проведения испытаний без присмотра. Изображение сложных образцов при напряжении ниже 1 кВ: сбор полной информации об образце.