Система сканирования слабого магнитного поля — это высокочувствительный прибор для картирования и измерения чрезвычайно малых магнитных моментов и слабых магнитных полей. Она была разработана в рамках крупного инструментального проекта Национальной ключевой программы исследований и разработок под руководством Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences.
Области применения- Материаловедение: мягкие магнитные композитные материалы
- Исследование дальнего космоса: магнитная декодировка лунных остатков
- Геологоразведка: магнитное сканирование базальтов
- Прочие: магнитная защита от подделки банкнот
Три ключевых технологических прорыва- Оптимизация высокочувствительных GMI-материалов и устройств
- Точная и эффективная измерение магнитного момента и магнитная инверсия
- Дифференциальные измерения по оси Z и фазово-заблокированное обнаружение микровибраций
Дополнительные примечания- Продукт магнитных измерений 10p emu представляет собой прорыв от нуля к единице.
- Этот высокочувствительный прибор для сканирования слабых магнитных полей был разработан в рамках крупного инструментального проекта Национальной ключевой программы исследований и разработок под руководством Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences.
Технические характеристики / спецификации- Описание индикаторов / Цели проекта (контекст заголовка таблицы)
- Чувствительность магнитного момента: ≤1×10⁻¹⁴ Am²
- Отклонение модуля магнитного момента: ≤2%
- Отклонение направления магнитного момента: ≤1
- Отклонение направления магнитного поля: ≤1,5 pT/√Hz
- Чувствительность сигнального момента: ≤50 μm
- Пространственное разрешение: ≤1 μm
- Точность позиционирования: ≥51 mm × 51 mm
- Диапазон сканирования: ≥1 T регулируемый
- Пиковое импульсное зарядное магнитное поле: ≥1 T регулируемое
- Пиковое переменнотоковое разрядное магнитное поле: ≥3000 hours
- MTBF (среднее время наработки до отказа): ≥8 уровней
- Готовность технологии: ≥3
- Количество областей применения: системное ПО с функцией инверсии магнитного момента