Программное обеспечение для измерений Kronos
моделированиядля управления3D-моделирования

Программное обеспечение для измерений - Kronos - SIEMENS EDA - моделирования / для управления / 3D-моделирования
Программное обеспечение для измерений - Kronos - SIEMENS EDA - моделирования / для управления / 3D-моделирования
Программное обеспечение для измерений - Kronos - SIEMENS EDA - моделирования / для управления / 3D-моделирования - изображение - 2
Программное обеспечение для измерений - Kronos - SIEMENS EDA - моделирования / для управления / 3D-моделирования - изображение - 3
Программное обеспечение для измерений - Kronos - SIEMENS EDA - моделирования / для управления / 3D-моделирования - изображение - 4
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Функция
для измерений, моделирования, для управления, 3D-моделирования, разработки, хранения, планирования задач
Применение
процесса, для архитектуры, потока
Другие характеристики
высокого качества

Описание

Высокопроизводительный и высокоэффективный анализатор характеристик библиотек ячеек для стандартных ячеек, многоразрядных ячеек и ячеек ввода-вывода. Характеризатор Kronos Высокопроизводительный инструмент для характеризации библиотек, генерирующий точные модели Liberty и Verilog/VHDL для широкого спектра ячеек, включая стандартные, многоразрядные и ячейки ввода/вывода. Инструмент поддерживает сложные методы создания и измерения стимулов, а также универсальный контроль синтаксиса выходных моделей. Производительность Высокая производительность благодаря быстрому времени выполнения и управлению несколькими заданиями моделирования Встроенная интеграция с AFS и Eldo для высокой производительности Высокомасштабируемая архитектура, распараллеливаемая до 1000 процессоров Динамическое планирование ресурсов для изменения размера пула ресурсов ЦП "на лету Оптимизация дискового ввода-вывода для повышения эффективности использования хранилища данных Возможности моделирования вариаций и повторной характеризации Быстрый и точный LVF для временных параметров, мощности и ограничений с полной точностью SPICE Поддержка моментов LVF для негауссовых распределений Поток повторной характеризации добавляет новые функции в существующие библиотеки или создает новые библиотеки Учет изменений в моделях процессов, макетах ячеек и SPICE-моделях Выходные данные характеризации Модели Liberty, Verilog и VHDL/VITAL Модели синхронизации, мощности и шума NLDM и CCS, а также модели, зависящие от состояния LVF и Moments Генерация и проверка моделей IBIS

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги SIEMENS EDA

Другие изделия SIEMENS EDA

IC Tool Portfolio

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.