Дифрактометр с рентгеновским излучением XtaLAB Synergy-ED

для лабораторийс простым кристаллом

ПОЛНОСТЬЮ ИНТЕГРИРОВАННЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ ДИФРАКТОМЕТР Система, с которой любой рентгеновский кристаллограф найдет интуитивно понятным управление XtaLAB Synergy-ED - это новый, полностью интегрированный электронный дифрактометр, создающий бесшовный рабочий процесс от сбора данных до определения структуры трехмерных молекулярных структур. XtaLAB Synergy-ED является результатом инновационного сотрудничества, направленного на синергетическое объединение наших основных технологий: высокоскоростной, высокочувствительный детектор подсчета фотонов (HyPix-ED) и современную программную платформу управления прибором и анализа монокристаллов (CrysAlisPro for ED) компании Rigaku, а также многолетний опыт и лидерство компании JEOL в разработке и производстве просвечивающих электронных микроскопов. Ключевая особенность этого продукта заключается в том, что он предоставляет исследователям интегрированную платформу, обеспечивающую легкий доступ к электронной кристаллографии. XtaLAB Synergy-ED - это система, которую любой рентгеновский кристаллограф найдет интуитивно понятной для работы, без необходимости становиться экспертом в области электронной микроскопии. XtaLAB Synergy-ED был разработан для удовлетворения растущей потребности в исследовании все более мелких образцов в структурных исследованиях. В рентгеновской кристаллографии наименьший возможный размер кристалла составляет 1 микрон, и только при использовании самых ярких источников рентгеновского излучения и бесшумных детекторов. Однако в последние годы растет потребность в структурном анализе веществ, которые образуют только микрокристаллы - кристаллы размером всего несколько сотен нанометров или меньше. В последние годы был разработан новый аналитический метод, MicroED, который использует дифракцию электронов на электронном микроскопе TEM для измерения трехмерных молекулярных структур нанокристаллических материалов.