Тестер сцепления Qscratch 20

для покрытиядля лабораторийнастольный

Введение
Qscratch 20 — полностью автоматический микро/макро испытатель царапин для контроля качества покрытий, функциональных поверхностей и деталей, подвергаемых критическим нагрузкам. Система сочетает управляемое приложением силы, точное электронное управление нагрузкой, интегрированную оптическую визуализацию и направляемые рабочие процессы в QpixControl2 для воспроизводимых испытаний с прогрессивной или постоянной нагрузкой, структурированной оценки, документации и отчетности.

Преимущества

• Полностью автоматический микро/макро испытатель царапин для покрытий и поверхностей
• Одиночные и множественные измерения для эффективных серий испытаний
• Электронное управление силой с диапазоном 0,5–200 N
• Режимы постоянной и прогрессивной нагрузки для испытаний в соответствии со стандартами
• 8‑позиционный моторизованный сменник инструментов для модулей и объективов
• Моторизованные оси X/Y/Z с высокой точностью позиционирования
• ПО QpixControl2 с направляемым рабочим процессом и автоматическим обнаружением событий Lc
• Опциональные модули повышения твердости и анализa Qpix Inspect для задач микроскопии

Методы испытаний

• Прогрессивная нагрузка (PFST / ASTM PL): задаются начальная и конечная нагрузки и скорость нагружения; нагрузка увеличивается вдоль длины царапины, видимые события фиксируются как точки Lc.
• Постоянная нагрузка (CFST / ASTM CL): нормальная сила остается постоянной по длине царапины; подходит для одиночных измерений, сравнений серий и повторяющихся QC-условий.

Стандарты и процедуры

• DIN EN ISO 20502 / ASTM C1624 — сцепление и механические режимы разрушения твердых керамических покрытий при испытании царапанием
• ISO 27307 — оценка адгезии/коhezии термопорошковых керамических слоев (поперечное царапание)
• ASTM G171 — определение твердости царапины с использованием заданного алмазного стилуса и оценка ширины оставшейся царапины

Оптика и система визуализации
Qscratch 20 использует разработанную QATM систему объективов с кёлеровской освещённостью, белыми светодиодами и моторизованной шторкой диафрагмы для получения изображений с высоким контрастом и большим увеличением, сопоставимых с современными микроскопами. Опционная встроенная камера образца (A+ версия) создаёт 5 MP цветное обзорное изображение (поле 52 × 39 mm) для навигации и документации.

Эксплуатация и удобство использования
Направляемая эксплуатация через QpixControl2 поддерживает создание тестов, визуальное позиционирование меток царапин, одиночные/многократные измерения, автоматическую оценку событий Lc, захват изображений и интеграцию данных в стандартизованные отчёты. Функции для автоматизации и лабораторных рабочих процессов включают интеграцию штрих-/QR-кодов/NFC, IoT‑подключение и автоматические обновления ПО (зависит от конфигурации).

Опциональные модули анализа (Qpix Inspect)

• Crater-grinding: микроскопическое измерение толщины покрытия (DIN EN ISO 26423)
• Rockwell adhesion test: качественная оценка адгезии керамических покрытий (DIN EN ISO 26443)
• Фазовый анализ, определение размера частиц, измерение шва и другие инструменты микроскопической оценки, интегрированные в Qpix Inspect

Для лабораторий
Разработан для лабораторий, принимающих ежедневно критические решения по поверхностям: стандартизированные сцарапывающие испытания с высокой повторяемостью, эффективная документация, интуитивные рабочие процессы и опциональные встроенные функции твердости и анализа для консолидирования испытаний на единой платформе.

Технические характеристики

• Диапазон измеряемой силы: 0,5 - 200 N
• Режимы испытаний: постоянная и прогрессивная нагрузка (одиночные и множественные измерения)
• Z‑ось: динамическая автоматизация (CAS), ход Z 150 mm
• Позиции инструментов: 8‑позиционный моторизованный сменник (макс. 3 испытательных модуля, макс. 7 объективов)
• Базовая комплектация: алмаз Rockwell; объективы 5×, 20×, 50×
• Типы объективов: стандартные (ахромат) и высококачественные (полуапохромат) для тестов твердости и микроскопии
• Камера образца (опция A+): 5 MP CMOS цвет, USB3.0, поле 52 × 39 mm
• Моторизованная X/Y‑ось (кросс-стол) точность позиционирования X/Y ±0,2 µm
• Размер стола: 150 × 120 mm
• Ход: X 150 mm, Y 150 mm
• Элементы управления: аварийная остановка, кнопка Пуск, джойстик X/Y/Z
• Макс. масса детали: 50 kg
• Масса базового прибора: 60 kg
• Опции: повышение твердости (Vickers/Knoop/Brinell/Rockwell) и модули Qpix Inspect
• Примечания: *0,5 N и 1 N > 1% точности