Тестер сцепления Qscratch 20 GO
для покрытиядля производствадля промышленности

Тестер сцепления - Qscratch 20 GO - QATM - для покрытия / для производства / для промышленности
Тестер сцепления - Qscratch 20 GO - QATM - для покрытия / для производства / для промышленности
Тестер сцепления - Qscratch 20 GO - QATM - для покрытия / для производства / для промышленности - изображение - 2
Тестер сцепления - Qscratch 20 GO - QATM - для покрытия / для производства / для промышленности - изображение - 3
Тестер сцепления - Qscratch 20 GO - QATM - для покрытия / для производства / для промышленности - изображение - 4
Тестер сцепления - Qscratch 20 GO - QATM - для покрытия / для производства / для промышленности - изображение - 5
Тестер сцепления - Qscratch 20 GO - QATM - для покрытия / для производства / для промышленности - изображение - 6
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Тип теста
сцепления
Тестируемое изделие
для покрытия
Применение
для промышленности, для лабораторий, для производства
Конфигурация
настольный, компактный
Другие характеристики
с управлением от компьютера, с системой сбора данных, полуавтоматический, механизированный

Описание

Обзор
Qscratch 20 GO — полуавтоматический макро/микро тестер царапин, предназначенный для стандартизированного контроля качества покрытий и поверхностей. Поддерживает одиночные измерения с прогрессивной или постоянной нагрузкой и обеспечивает трассируемые, соответствующие стандартам результаты благодаря интегрированному оборудованию и программному обеспечению QpixControl2.

Преимущества продукта
  • Полуавтоматический макро/микро тестер царапин для определённых рабочих процессов контроля качества
  • Компактное решение для рутинных испытаний и производственного мониторинга
  • Электронное управление нагрузкой с диапазоном 0.5–200 N
  • Режимы постоянной и прогрессивной нагрузки для стандартизированных испытаний
  • Автоматический 8‑позиционный сменщик инструментов для модулей и объективов
  • Динамически автоматизированная ось Z и моторизованная ось Y
  • Программное обеспечение QpixControl2 с руководимым рабочим процессом и структурированными отчётами
  • Структурированная оценка и отчётность для трассируемых результатов


Методы испытаний и диапазон сил
Прогрессивная нагрузка
Определяются начальная и конечная нагрузки и скорость нарастания; нагрузка увеличивается вдоль длины царапины, видимые события помечаются как точки Lc в соответствующих позициях. Ссылки на стандарты: ISO (PFST), ASTM (PL). Lc — критическая нагрузка.

Постоянная нагрузка
Нормальная сила остаётся постоянной вдоль длины царапины, подходит для одиночных измерений, сравнения серий и повторяющихся условий контроля качества. Ссылки: ISO (CFST), ASTM (CL). Lc: критическая нагрузка.

Принцип испытания и события отказа
Алмазный стилус перемещается по покрытой поверхности под заданной нормальной силой. Видимые события разрушения (растрескивание, отслоение, проникновение) локализуются вдоль царапины и соотносятся с соответствующими критическими нагрузками, что обеспечивает трассируемость точек отказа.

Определение и присвоение событий отказа
  • Lc1 - Начальное растрескивание / пластическая деформация
  • Lc2 - Отслоение (spalling)
  • Lc3 - Проникновение покрытия до основания


Оптика, освещение и визуализация
Qscratch 20 GO использует оптическую систему, разработанную QATM, с Кёлеровской (Köhler) подсветкой и белыми светодиодами, а также моторным управлением диафрагмы для получения изображений с высоким контрастом и большим увеличением, сопоставимых с продвинутыми микроскопами. Объективы: стандартные ахроматы и высококачественные полуапохроматы. Интегрированная съёмка образца и моторный сменщик объективов/инструментов позволяют проводить инспекцию и определение Lc без смещений.

Эксплуатация и автоматизация
Система включает моторизованный 8‑позиционный сменщик инструментов (макс. 3 модуля испытаний, макс. 7 объективов), моторизованную ось Y, динамически автоматизированную ось Z с ходом 150 мм и технологию CAS (Collision Avoiding System) для защиты механики посредством предиктивных 3D расчётов движения. LED‑подсветка рабочего пространства и подсвеченный индикатор состояния помогают с позиционированием образца и обзором статуса.

Программное обеспечение и рабочий процесс
QpixControl2 предоставляет руководимый рабочий процесс для испытаний царапин и 3D‑концепцию пользователя: создание методов, визуальное позиционирование полос, автоматизация одиночных или множественных измерений, руководимая оценка Lc, интегрированная съёмка, управление данными, экспорт и стандартная отчётность. Поддерживаются интерфейсы для интеграции Industry 4.0: XML, CSV, Q‑DAS, LIMS, OPC UA и др.

Типы покрытий и материалов (типичные применения)
  • Тонкие жёсткие керамические покрытия (обычно 0.1–30 μm): карбиды (TiC, CrC), нитриды (TiN, CrN, TiAlN), оксиды (Al2O3), алмаз, DLC
  • Тонкие жёсткие PVD/PACVD и технические покрытия (обычно ≤ 20 μm): PVD TiN, PACVD DLC, дуговой DLC, PVD/PACVD Cr–C, PVD Al2O3, твёрдый хром


Стандарты
  • DIN EN ISO 20502 / ASTM C1624 — Определение адгезии и механических режимов разрушения жёстких керамических покрытий методом царапины
  • ISO 27307 — Оценка адгезии и когезии термопульверных керамических слоёв методом поперечного царапания
  • ASTM G171 — Определение твердости при царапании с использованием определённого алмазного стилуса и постоянной нормальной силы


В комплекте / базовое оснащение
  • Алмазный индентор Rockwell (базовый модуль испытаний)
  • Стандартные объективы: 20x, 50x (в комплекте)
  • Моторизированная ось Y и динамическая ось Z (CAS)
  • 8‑позиционный моторизированный сменщик инструментов (макс. 3 модуля, макс. 7 объективов)
  • Интегрированное ПО QpixControl2 (руководимый рабочий процесс и отчётность)


Технические характеристики
  • Диапазон тестовых нагрузок: 0.5–200 N (0.5 N и 1 N > 1% точность)
  • Ось Z: динамическая, автоматизированная (CAS), ход 150 mm
  • Позиции инструментов: 8‑позиционный моторизированный сменщик (макс. 3 модуля испытаний, макс. 7 объективов)
  • Типы объективов: стандартные (ахромат) и высококачественные (полуапохромат)
  • Размер стола: 150 x 120 mm
  • Ход (Y): 150 mm
  • Точность позиционирования оси Y: ±0.2 μm
  • Элементы управления: аварийная остановка, кнопка запуска, джойстик Y/Z
  • Макс. масса заготовки: 50 kg
  • Масса базового прибора: 58 kg
  • Опциональные модули: Qpix Inspect (crater‑grinding, Rockwell adhesion test), цифровой штангенциркуль и другие опции инспекции

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги QATM
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.