ОбзорQscratch 20 GO — полуавтоматический макро/микро тестер царапин, предназначенный для стандартизированного контроля качества покрытий и поверхностей. Поддерживает одиночные измерения с прогрессивной или постоянной нагрузкой и обеспечивает трассируемые, соответствующие стандартам результаты благодаря интегрированному оборудованию и программному обеспечению QpixControl2.
Преимущества продукта- Полуавтоматический макро/микро тестер царапин для определённых рабочих процессов контроля качества
- Компактное решение для рутинных испытаний и производственного мониторинга
- Электронное управление нагрузкой с диапазоном 0.5–200 N
- Режимы постоянной и прогрессивной нагрузки для стандартизированных испытаний
- Автоматический 8‑позиционный сменщик инструментов для модулей и объективов
- Динамически автоматизированная ось Z и моторизованная ось Y
- Программное обеспечение QpixControl2 с руководимым рабочим процессом и структурированными отчётами
- Структурированная оценка и отчётность для трассируемых результатов
Методы испытаний и диапазон силПрогрессивная нагрузкаОпределяются начальная и конечная нагрузки и скорость нарастания; нагрузка увеличивается вдоль длины царапины, видимые события помечаются как точки Lc в соответствующих позициях. Ссылки на стандарты: ISO (PFST), ASTM (PL). Lc — критическая нагрузка.
Постоянная нагрузкаНормальная сила остаётся постоянной вдоль длины царапины, подходит для одиночных измерений, сравнения серий и повторяющихся условий контроля качества. Ссылки: ISO (CFST), ASTM (CL). Lc: критическая нагрузка.
Принцип испытания и события отказаАлмазный стилус перемещается по покрытой поверхности под заданной нормальной силой. Видимые события разрушения (растрескивание, отслоение, проникновение) локализуются вдоль царапины и соотносятся с соответствующими критическими нагрузками, что обеспечивает трассируемость точек отказа.
Определение и присвоение событий отказа- Lc1 - Начальное растрескивание / пластическая деформация
- Lc2 - Отслоение (spalling)
- Lc3 - Проникновение покрытия до основания
Оптика, освещение и визуализацияQscratch 20 GO использует оптическую систему, разработанную QATM, с Кёлеровской (Köhler) подсветкой и белыми светодиодами, а также моторным управлением диафрагмы для получения изображений с высоким контрастом и большим увеличением, сопоставимых с продвинутыми микроскопами. Объективы: стандартные ахроматы и высококачественные полуапохроматы. Интегрированная съёмка образца и моторный сменщик объективов/инструментов позволяют проводить инспекцию и определение Lc без смещений.
Эксплуатация и автоматизацияСистема включает моторизованный 8‑позиционный сменщик инструментов (макс. 3 модуля испытаний, макс. 7 объективов), моторизованную ось Y, динамически автоматизированную ось Z с ходом 150 мм и технологию CAS (Collision Avoiding System) для защиты механики посредством предиктивных 3D расчётов движения. LED‑подсветка рабочего пространства и подсвеченный индикатор состояния помогают с позиционированием образца и обзором статуса.
Программное обеспечение и рабочий процессQpixControl2 предоставляет руководимый рабочий процесс для испытаний царапин и 3D‑концепцию пользователя: создание методов, визуальное позиционирование полос, автоматизация одиночных или множественных измерений, руководимая оценка Lc, интегрированная съёмка, управление данными, экспорт и стандартная отчётность. Поддерживаются интерфейсы для интеграции Industry 4.0: XML, CSV, Q‑DAS, LIMS, OPC UA и др.
Типы покрытий и материалов (типичные применения)- Тонкие жёсткие керамические покрытия (обычно 0.1–30 μm): карбиды (TiC, CrC), нитриды (TiN, CrN, TiAlN), оксиды (Al2O3), алмаз, DLC
- Тонкие жёсткие PVD/PACVD и технические покрытия (обычно ≤ 20 μm): PVD TiN, PACVD DLC, дуговой DLC, PVD/PACVD Cr–C, PVD Al2O3, твёрдый хром
Стандарты- DIN EN ISO 20502 / ASTM C1624 — Определение адгезии и механических режимов разрушения жёстких керамических покрытий методом царапины
- ISO 27307 — Оценка адгезии и когезии термопульверных керамических слоёв методом поперечного царапания
- ASTM G171 — Определение твердости при царапании с использованием определённого алмазного стилуса и постоянной нормальной силы
В комплекте / базовое оснащение- Алмазный индентор Rockwell (базовый модуль испытаний)
- Стандартные объективы: 20x, 50x (в комплекте)
- Моторизированная ось Y и динамическая ось Z (CAS)
- 8‑позиционный моторизированный сменщик инструментов (макс. 3 модуля, макс. 7 объективов)
- Интегрированное ПО QpixControl2 (руководимый рабочий процесс и отчётность)
Технические характеристики- Диапазон тестовых нагрузок: 0.5–200 N (0.5 N и 1 N > 1% точность)
- Ось Z: динамическая, автоматизированная (CAS), ход 150 mm
- Позиции инструментов: 8‑позиционный моторизированный сменщик (макс. 3 модуля испытаний, макс. 7 объективов)
- Типы объективов: стандартные (ахромат) и высококачественные (полуапохромат)
- Размер стола: 150 x 120 mm
- Ход (Y): 150 mm
- Точность позиционирования оси Y: ±0.2 μm
- Элементы управления: аварийная остановка, кнопка запуска, джойстик Y/Z
- Макс. масса заготовки: 50 kg
- Масса базового прибора: 58 kg
- Опциональные модули: Qpix Inspect (crater‑grinding, Rockwell adhesion test), цифровой штангенциркуль и другие опции инспекции