Металлографический микроскоп MX-41

оптическийдля анализовтринокулярный

СПЕЦИФИКАЦИЯ - Платформа X-Y Moving Stage Platform оснащена ручками для мгновенного и надежного перемещения компонентов. - Поворотная на 360° бинокулярная смотровая головка - Дифференциальный интерфейсный контраст (переданный и отраженный DIC) - Фильтр нейтральной плотности для осветителя отраженного света - Осветитель отраженного света для светлого и темного поля - Поляризационный слайдер для зараженного света - Анализатор с возможностью вращения на 360 градусов - Фильтр нейтральной плотности для падающего света - M Plan Semi Apochromat Objective 5X - M Plan Semi Apochromat Objective 10X - M Plan Semi Apochromat Objective 20X - Широкоугольный окуляр 10X со шкалой из стекла Inbulit - 30 Вт мощная осветительная установка АНАЛИЗАТОР ИЗОБРАЖЕНИЙ METALYSER - размер зерна в соответствии с ASTM, JIS, ISO Измерения длины, угла и т.д - многофазный анализ - Узловатость / количество и процент железа SG - процент пористости - Толщина покрытия / Инструменты для измерения слоев - Обезуглероживание - включение - Длина и типы графических чешуек - анализ размера частиц - Калибровка по двум осям КАМЕРА - - Multitek 5MP HD камера Panasonic Sensor Chip ProgRes Scan для сканирования в реальном времени.