Испытательная камера для шлифовки Hatina WLBI
для полупроводникадля контроля качества

Испытательная камера для шлифовки - Hatina WLBI - Microtest - для полупроводника / для контроля качества
Испытательная камера для шлифовки - Hatina WLBI - Microtest - для полупроводника / для контроля качества
Испытательная камера для шлифовки - Hatina WLBI - Microtest - для полупроводника / для контроля качества - изображение - 2
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип тестов
для шлифовки
Применение изделия
для полупроводника
Применение
для контроля качества
Длина

560 mm
(22,05 in)

Ширина

560 mm
(22 in)

Глубина

550 mm
(22 in)

Описание

Решение для Burn-In на уровне пластины для силовых МОП Основные моменты: WLBI для силовых технологий - Si, SiC, GaN Совместимость с 6-, 8- и 12-дюймовыми пластинами Возможность полного прожига пластин Экономически эффективное решение для тестирования надежности и жизненного цикла Использует стандартную технологию обработки пластин Ключевые особенности: Параллельность: от 160 до 1600 участков Напряжение: до 1,2 кВ на участок Ток: 2 мА на участок Тестовая установка: Функциональный тест HTGB HTRB

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Microtest

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

Sensor+Test 2025
Sensor+Test 2025

6-08 мая 2025 Nürnberg (Германия)

  • Дополнительная информация
    PCIM Expo 2025
    PCIM Expo 2025

    6-08 мая 2025 Nuremberg (Германия)

  • Дополнительная информация
    Посмотреть все выставки
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.