Испытательная камера для шлифовки Hatina WLBI
для полупроводникадля контроля качества

Испытательная камера для шлифовки - Hatina WLBI - Microtest - для полупроводника / для контроля качества
Испытательная камера для шлифовки - Hatina WLBI - Microtest - для полупроводника / для контроля качества
Испытательная камера для шлифовки - Hatina WLBI - Microtest - для полупроводника / для контроля качества - изображение - 2
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

fo_shop_gate_exact_title

Характеристики

Тип тестов
для шлифовки
Применение изделия
для полупроводника
Применение
для контроля качества
Длина

560 mm
(22,05 in)

Ширина

560 mm
(22 in)

Глубина

550 mm
(22 in)

Описание

Решение для Burn-In на уровне пластины для силовых МОП Основные моменты: WLBI для силовых технологий - Si, SiC, GaN Совместимость с 6-, 8- и 12-дюймовыми пластинами Возможность полного прожига пластин Экономически эффективное решение для тестирования надежности и жизненного цикла Использует стандартную технологию обработки пластин Ключевые особенности: Параллельность: от 160 до 1600 участков Напряжение: до 1,2 кВ на участок Ток: 2 мА на участок Тестовая установка: Функциональный тест HTGB HTRB

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Microtest

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

SEMICON EUROPA
SEMICON EUROPA

19-21 нояб. 2025 Munchen (Германия)

  • Дополнительная информация
    SEMICON JAPAN
    SEMICON JAPAN

    17-19 дек. 2025 Tokyo (Япония)

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.