Испытательное оборудование полупроводника HATINA GP

качестваавтоматизированноедля электронного компонента

ОБЩЕПРОФИЛЬНОЕ АТЕ для ASIC, PMIC и Smart Power HATINA GP предназначен для тестирования сложных ИС Smart Power и SoC. Рекомендуется при высоком параллелизме. Основные характеристики: - Встроенный мультиплексор снижает сложность нагрузочной платы - Эффективность параллельных тестов >99% обеспечивает лучший в классе COT - Модульные приборы соответствуют потребностям рынка и технологий - Меньшая площадь и меньшая мощность повышают рентабельность инвестиций - Автоматизированная разработка тестовых программ сокращает время выхода на рынок - Революционные инструменты SW (Kronos) Ключевые особенности: - Источники постоянного тока [IV квадрант с отводом на землю] Низкая мощность: до 160 ресурсов на слот [±110 В, ±200 мА] - Источники постоянного тока [IV квадрант Ground Referred] Средней мощности: до 80 ресурсов на слот [±110В, ±4А] - DC [IV квадранты Fully Floating] Источники высокой мощности: до 16 ресурсов на слот [±80V, ±10A] - Цифровые каналы: до 256 каналов на слот [выходной уровень от -1,25В до 6,75В, 50мА, активная нагрузка ±12мА] - Цифровой канал LF II°Gen @200MHz до 1024 - DPS HC [Цифровой источник питания - высокий ток] 5,5V@10A до 80 - DPS LC [Цифровой источник питания - низкий ток] 7V@1A до 256 - Цифровой канал HF @800MHz до 256 - Блок измерения времени и дифференциальный измеритель, AWG и дигитайзер - ОПЦИЯ: - Опция HV - Блок измерения времени до 64 - Плавающий цифровой драйвер до 192 - Измерители LCR: до 64 - PPMU: до 64 - Пикоизмерительные приборы: до 64 [точность 20pA] - Индуктивные и резистивные нагрузки до 64 x 2 Размеры - Высота: 700 мм - Ширина: 670 мм - Глубина: 640 мм