Испытательное оборудование полупроводника VIP EXTENDED

качестваавтоматическоедля полупроводниковой пластины

Автоматическое испытательное оборудование, конфигурируемое для силовых изделий из Si, SiC и GaN; ИС с драйверами высокой и низкой стороны, IGBT, силовые MOSFET, силовые ИС. Основные характеристики: - Высокий показатель UPH для сортировки пластин и тестирования полос - Параллельное тестирование 48 участков для Rg, Cg и UiS - Самый низкий COT для силовых продуктов Ключевые особенности: - Источники постоянного тока [4 квадранта с отсылкой на землю] Средняя мощность: до 64 ресурсов [±110 В, ±4 А] - Программируемый ток источника/поглотителя постоянного тока: до 64 ресурсов [до ±250A] - Цифровые каналы: до 320 каналов [выходной уровень от -1,25В до 6,75В, 50мА, активная нагрузка ±12мА, 64M Pattern Memory/ch, 32M DSIO Memory/ch, один PPMU на канал] - Блок измерения времени до 64 - Плавающий цифровой драйвер до 192 - Измерители LCR: до 64 - PPMU: до 64 - Пикоизмерительные приборы: до 64 [точность 20pA] - Индуктивные и резистивные нагрузки до 64 x2 Размеры - Высота: 350 мм - Ширина: 600 мм - Глубина: 640 мм