Характеристики
■ Наименьшая индуктивность (≥0,1 мкГн)
■ Высоковольтная калибровка
■ Программируемое импульсное напряжение
■ Высокая частота дискретизации импульсных тестов 200 МГц/9 бит
■ Сравнение общей площади
■ Сравнение дифференциальной площади
■ Сравнение короны
■ Сравнение лапласиан
■ Функция компенсации напряжения
MICROTEST серии 7750 - это усовершенствованный импульсный тестер обмоток с более быстрым цветным экраном. Он обеспечивает выходное импульсное напряжение 1200 В/5200 В/10000 В и использует технологию высокоскоростной выборки на частоте 200 МГц/9 бит. Он предлагает различные режимы сравнения, такие как общая площадь, разница площадей, подсчет короны, подсчет джиттера, дифференцирование второго порядка и сравнение осциллограмм. Скорость тестирования составляет до 10 раз в секунду, что делает его идеальным решением для высокоскоростных производственных линий.
Для тестирования небольших компонентов в комплект поставки тестера 7750-1S входит четырехпроводное приспособление для тестирования SMD-компонентов FX-IM0001. Оно оснащено функцией компенсации напряжения, позволяющей минимизировать погрешности напряжения, вызванные разводкой и эквивалентной индуктивностью, что обеспечивает точный контроль качества изделий с малой индуктивностью.
---