- Метрология - Лабораторное дело
- Физико-Химические Анализы
- Кристаллографическая система с рентгеновским излучением
- Liaodong Radioactive Instrument
Кристаллографическая система с рентгеновским излучением JF-2
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Спецификации
- с рентгеновским излучением
Описание
Назначение: Рентгеновский кристаллический аналитический прибор в основном используется для
перекрытие внутренней микроструктуры вещества. Например, одиночная крошка
ystal направление, осмотрите деформации, направление вещества,
измерять параметры решетки, измерять остаточное напряжение и т.д.
---
Каталоги
Model JF-2 x-ray analysis instrument
1 Страницы
Другие изделия Liaodong Radioactive Instrument
X-ray Crystal Analytical Instrument
Расширенный поиск
- Автоматизированный анализатор
- Анализатор для письменного стола
- Анализатор для пыли
- Анализатор для контроля
- Дифрактометр
- Дифрактометр XRD
- Дифрактометр с простым кристаллом
- Кристаллографическая система
- Дифрактометр для порошков
- Кристаллографическая система с рентгеновским излучением
- Переносной дифрактометр
- Настольная кристаллографическая система
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.