Штатив для микроскопа XL Stand

Модульное решение Leica XL Stand позволяет проводить обследование больших образцов при высоком стереоскопическом увеличении для таких применений, как обследование печатных плат, экспертиза инструментальных средств или документации, а также обследование TFT/LCD XY-ступень (опционально) имеет специальный ESD-мат с защелкивающимся креплением, который в сочетании с большой опорной плитой заземляет систему во избежание повреждения чувствительных электронных компонентов электростатическим разрядом. XY столик (опция) поддерживает большие размеры образца до 400 X 450 мм, а столики 300 X 300 мм с расстоянием перемещения обрабатывают образцы размером до 12" X 12", таким образом, документы до A4 могут быть проверены одновременно, без перестановки.