Измерительная система для кромки полупроводниковой пластины WATOM T
оптическаякомпактнаяпрофилометр

Измерительная система для кромки полупроводниковой пластины - WATOM T - KoCoS Messtechnik AG - оптическая / компактная / профилометр
Измерительная система для кромки полупроводниковой пластины - WATOM T - KoCoS Messtechnik AG - оптическая / компактная / профилометр
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Технология
оптическая
Измеренное изделие
для кромки полупроводниковой пластины
Другие характеристики
компактная, профилометр

Описание

Однопластинчатый краевой профилировщик WATOM T Малая площадь и стабильная точность WATOM T - это компактная и недорогая альтернатива для приложений, не требующих автоматизации, обеспечивающая такое же качество, надежность процесса и точность измерений, как и другие системы WATOM. Конструкция WATOM T позволяет принимать пластины двух размеров для быстрого измерения образцов. Оснащенный сенсорным экраном, этот инструмент прост в использовании как для операторов, так и для специалистов и обслуживающего персонала.

---

Каталоги

Wafer Topography Measurement
Wafer Topography Measurement
16 Страницы

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

Control 2025
Control 2025

6-09 мая 2025 Stuttgart (Германия)

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.