Оптическая система контроля ICOS™ T3/T7

3D2DИИ

Серия ICOS™ T3/T7 предоставляет множество возможностей для полностью автоматизированного оптического контроля упакованных компонентов интегральных схем (ИС) с выводом на лоток (T3) или ленту (T7). Серия ICOS T3/T7 обеспечивает повышенную чувствительность к мелким дефектам в сочетании с точными и воспроизводимыми 3D-метрологическими измерениями для улучшения обнаружения проблем, влияющих на конечное качество упаковки. Для наиболее точного процесса сортировки компонентов в серии ICOS T3/T7 используются системы искусственного интеллекта (AI) с алгоритмами глубокого обучения, позволяющие интеллектуально и оперативно сортировать типы дефектов. Инспекторы ICOS T3 и T7 имеют общую платформу, что позволяет перенастраивать их с лотка на ленту для оптимального использования инструмента в меняющихся условиях. Области применения Исходящий контроль качества компонентов (OQC) для всех типов корпусов (тонкий четырехслойный плоский пакет (TQFP), четырехслойный плоский пакет (QFP), BGA, пакет для масштабирования чипов (CSP), пакет уровня пластины (WLP), QFN, носитель бамп-чипа (BCC), массив наземных решеток (LGA) и многое другое...)