Серия Candela 7100 обеспечивает передовое обнаружение и классификацию дефектов на подложках и носителях для жестких дисков. Созданная на базе проверенной на практике линейки продуктов Candela, серия 7100 систем обнаружения и классификации дефектов жестких дисков помогает производителям обнаруживать и классифицировать критические субмикронные дефекты, такие как микроотверстия, неровности, частицы и скрытые дефекты, что позволяет максимизировать выход продукции и снизить общую стоимость контроля.
Передовая система обнаружения и классификации дефектов серии Candela 7100 разработана специально для подложек и носителей жестких дисков. Мощный лазер с двумя длинами волн оптимизирован для решения текущих задач по обнаружению дефектов, представляющих интерес (DOI), а многоканальные детекторы рассеяния обеспечивают повышенную чувствительность для классификации субмикронных ям, неровностей, частиц и скрытых дефектов на всем диапазоне подложек. Возможности и стабильность инспектора дефектов серии 7100 обеспечивают возможность использования одной платформы для нескольких точек приложения контроля процесса, уменьшая зависимость от таких инструментов и методов, как атомно-силовой, сканирующий электронный и просвечивающий электронный микроскопы для исследования дефектов и выявления первопричины.
Особенности
Обнаружение и классификация субмикронных ям, неровностей, частиц, скрытых дефектов на металле и стекле, подложках и носителях с помощью карт дефектов всего диска
Обеспечивает более быстрое получение результатов благодаря картам дефектов всего диска, классификации дефектов и выводу данных, пригодных для практического применения
Снижает зависимость от технологий автономного контроля (AFM, SEM, TEM и т.д.), что приводит к снижению общей стоимости владения
Доступен в ручной (7110) или полностью автоматизированной (7140) конфигурации
---