Толщиномер покрытий FT110A XRF оснащен новой функцией автоматической фокусировки, которая автоматически фокусируется на образце для получения оптического изображения в течение нескольких секунд. Ручная настройка не требуется, что обеспечивает более высокую производительность.
Простое управление
После размещения образца на столе автоматически отображается его оптическое изображение.
Точное измерение толщины покрытия Au толщиной 50 нм за 10 секунд
Оптимальная геометрия обеспечивает повышенную чувствительность даже под микролучами, что позволяет повысить точность измерений с круглым коллиматором 0,1 или 0,2 мм.
Измерение без стандартного образца
Измерения можно проводить без стандартного образца (образцов) по толщине, расширив программное обеспечение FP. Измерения многослойных пленок и пленок из сплавов могут быть легко выполнены.
Простое позиционирование с помощью системы широкого обзора (опция)
С помощью новой системы широкого обзора (опция) можно наблюдать все изображение образца (размер макс. 250x200 мм) и задавать необходимую область измерения.
---