Гибридный оптический 3D-профилометр серии Superview WT используется для субнанометровых измерений поверхностей различных прецизионных компонентов и материалов. Он объединяет в себе характеристики двух высокоточных 3D-измерительных приборов - интерферометра белого света и конфокального микроскопа - и позволяет выполнять бесконтактное сканирование поверхности образцов с последующим восстановлением 3D-изображения поверхности. При измерении сверхгладких и прозрачных поверхностей можно использовать режим интерферометрии белого света для получения высокоточных изображений без искажений и анализа таких параметров, как шероховатость. При измерении грубых поверхностей с острыми углами режим конфокальной микроскопии позволяет восстанавливать трехмерные топографические изображения под большим углом, а 2D и 3D параметры, отражающие качество поверхности, получаются путем обработки данных и анализа трехмерных изображений поверхности с помощью программного обеспечения.
---