Профилометр со щупом NS200

промышленный

Stylus Nano Profiler CP200 - это сверхточный контактный измерительный прибор для измерения шероховатости поверхности и микроскопического профиля, такого как высота микронаношага, толщина пленки. В CP200 используется датчик перемещения с субангстремным разрешением, сверхнизкий уровень шума при получении сигнала, сверхтонкое управление перемещением и технология алгоритмов калибровки с превосходными характеристиками. Его контактная сила чрезвычайно мала, и нет специальных требований к измерению характеристик отражения поверхности, типов материалов и твердости материала, поэтому он широко используется для измерения микроскопической поверхности в промышленности полупроводников и составных полупроводников, светодиодов высокой яркости, солнечной энергии, микроэлектромеханических систем MEMS, сенсорных экранов, автомобильного и медицинского оборудования.