Оптический профилометр WT3200

3Dсо щупомконфокальный

Гибридный оптический 3D профилометр серии Superview WT используется для измерения субнанометровых размеров поверхностей различных прецизионных компонентов и материалов. Он объединяет в себе рабочие характеристики двух высокоточных 3D-измерительных приборов - интерферометра белого света и конфокального микроскопа, и может выполнять бесконтактное сканирование поверхности образцов, а затем восстанавливать 3D-изображение поверхности. При измерении сверхгладких и прозрачных поверхностей можно использовать режим интерферометрии белого света для получения высокоточных изображений без искажений и анализа таких параметров, как шероховатость. При измерении грубых поверхностей с острыми углами режим конфокальной микроскопии позволяет воссоздать структурировать трехмерные топографические изображения под большим углом, а 2D и 3D параметры, отражающие качество поверхности, получаются 2D- и 3D-параметры, отражающие качество поверхности, можно получить путем обработки и анализа 3D-изображений поверхности с помощью программного обеспечения.