Оптический профилометр ContourX-1000
3Dдля измерения шероховатостипромышленный

Оптический профилометр - ContourX-1000 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / для измерения шероховатости / промышленный
Оптический профилометр - ContourX-1000 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / для измерения шероховатости / промышленный
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Технология
оптический, 3D
Функция
для измерения шероховатости
Спецификации
промышленный

Описание

Самокалибрующееся, полностью автоматизированное решение для исследований и производства Напольный интерферометр белого света (WLI) ContourX-1000 позволяет легко и быстро получать качественные трехмерные ареальные измерения текстуры и шероховатости поверхности. Воплощая в себе 30 с лишним лет инноваций и наше новейшее запатентованное программное обеспечение и технологии, эта метрологическая система обеспечивает быстрое время получения результатов и воспроизводимость, которыми славятся оптические профилометры Bruker, с увеличенной пропускной способностью и еще большим удобством для оператора. Благодаря возможностям полной автоматизации, простому интерфейсу пользователя и упрощенным рецептам настройки и анализа измерений ContourX-1000 обеспечивает самую точную и прецизионную метрологию практически на любой поверхности, любым оператором, даже на многопользовательских крупносерийных производствах. Собственная разработка аппаратное обеспечение и особенности системы Обеспечивают самые точные измерения текстуры и шероховатости поверхности на любых поверхностях. Самокалибрующийся лазер Обеспечивает метрологию с возможностью калибровки для разработки или производства. Удобный для оператора программное обеспечение Автоматизирует измерения и анализ для бескомпромиссной метрологии независимо от уровня опыта оператора. Оснащенный эксклюзивной технологией интерферометрии Bruker и способный к полной автоматизации, ContourX-1000 расширяет непревзойденные возможности измерений и визуализации наших профилометрических систем ContourX, включая практически любые задачи разработки и производства. Только ContourX-1000: Обеспечивает быструю и универсальную метрологию на производстве благодаря эксклюзивной головке с наконечником/наклоном, двойному источнику света и расширенной автоматизации;

---

ВИДЕО

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Bruker Handheld XRF Spectrometry
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.