Оптический профилометр ContourX-500
3Dс интерферометрией белого светапромышленный

Оптический профилометр - ContourX-500 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / с интерферометрией белого света / промышленный
Оптический профилометр - ContourX-500 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / с интерферометрией белого света / промышленный
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Технология
оптический, 3D, с интерферометрией белого света
Спецификации
промышленный
Конфигурация
настольный
Другие характеристики
бесконтактный

Описание

Полностью автоматизированный стенд для 3D-метрологии Наша самая передовая конструкция стенда Усовершенствованная автоматика с кодированным XY-штативом, автоматическим наклоном головки и автоматической интенсивностью Простой в использовании интерфейс для получения быстрых и точных результатов Широкий спектр настраиваемых функций автоматизации для уникальных и специализированных измерений и анализа Оптический профилометр ContourX-500 - это самая полная в мире автоматизированная настольная система для быстрой, бесконтактной 3D-метрологии поверхностей. ContourX-500 с возможностью установки датчиков обладает непревзойденным разрешением и точностью по оси Z и обеспечивает все признанные в отрасли преимущества напольных моделей Bruker для интерферометрии белого света (WLI), занимая при этом гораздо меньшую площадь. Профилометр легко настраивается для широкого спектра сложных приложений, от метрологии QA/QC прецизионных обработанных поверхностей и полупроводниковых процессов до научно-исследовательских характеристик офтальмологических и MEMS-устройств. Наклонный наконечник оптическая головка Измерение характеристик поверхности в диапазоне углов при минимизации ошибок слежения. Самый передовой пользовательский интерфейс Обеспечивает интуитивно понятный доступ к обширной библиотеке запрограммированных фильтров и анализов. Встроенный воздушная изоляция Обеспечивает высочайшую метрологическую точность при компактных размерах. Запатентованная Bruker функция автоматического наклона головки обеспечивает непревзойденную гибкость при настройке и проверке. Соединив функцию автоматического наклона с оптическим трактом в головке микроскопа, Bruker соединила точку контроля с линией визирования независимо от наклона. Это позволяет уменьшить вмешательство оператора и обеспечивает максимальную воспроизводимость. Другие особенности оборудования включают инновационную конструкцию столика для больших возможностей сшивания

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Bruker Handheld XRF Spectrometry
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.