Оптический профилометр ContourX-100
3Dс интерферометрией белого светадля измерения шероховатости

Оптический профилометр - ContourX-100 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / с интерферометрией белого света / для измерения шероховатости
Оптический профилометр - ContourX-100 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / с интерферометрией белого света / для измерения шероховатости
Оптический профилометр - ContourX-100 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - 3D / с интерферометрией белого света / для измерения шероховатости - изображение - 2
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Технология
оптический, 3D, с интерферометрией белого света
Функция
для измерения шероховатости
Спецификации
промышленный
Конфигурация
настольный
Другие характеристики
бесконтактный

Описание

Оптимизированный и доступный настольный прибор для измерения шероховатости Оптический профилометр ContourX-100 устанавливает новый стандарт для точной и воспроизводимой бесконтактной метрологии поверхности по лучшей в своем классе цене. Система, занимающая небольшую площадь, предлагает бескомпромиссные возможности 2D/3D измерений с высоким разрешением в обтекаемом корпусе, в котором воплощены десятилетия запатентованных инноваций Bruker в области интерферометрии белого света (WLI). Усовершенствования нового поколения включают новую 5-Мп камеру и обновленную ступень для расширения возможностей сшивки, а также новый режим измерений USI, обеспечивающий еще большее удобство и гибкость при работе с прецизионными обработанными поверхностями, толстыми пленками и трибологическими приложениями. Вы не найдете настольной системы с лучшими характеристиками, чем ContourX-100. Лучший в отрасли Z-разрешение Обеспечивает постоянные, точные измерения независимо от увеличения. Непревзойденная метрологическая ценность Оптимизация конструкции без ущерба для измерительных возможностей. Удобный для пользователя программный интерфейс Обеспечивает интуитивно понятный доступ к обширной библиотеке запрограммированных фильтров и анализов. Профилометр ContourX-100 - это кульминация более чем четырех десятилетий собственных оптических инноваций и лидерства в отрасли бесконтактной метрологии поверхностей, определения характеристик и формирования изображений. В системе используется технология 3D WLI и 2D-изображений для проведения нескольких анализов за один прием. ContourX-100 устойчив к любым ситуациям на поверхности от 0,05% до 100% отражательной способности. Благодаря тысячам настраиваемых анализов и простым и мощным пользовательским интерфейсам VisionXpress™ и Vision64® от Bruker, настольная система ContourX-100 оптимизирована для повышения производительности как в лабораториях, так и на заводах.

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Bruker Handheld XRF Spectrometry
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.