- Метрология - Лабораторное дело >
- Метрология и Испытания >
- Испытательная система для GaN FET
Испытательные системы для GaN FET
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
испытательная система для старенияHatina WLBI
... упрощает интеграцию в автоматизацию.
Ключевые преимущества
- Поддержка силовых технологий: Si, SiC и GaN
- Совместимость с пластинами 6, 8 и 12 дюймов
- Обеспечивает Burn-In целой пластины и ускоренные
испытательная система ударное напряжениеPST6747Ai series
... быструю импульсную работу и обнаружение тока на уровне fA, что позволяет характеризовать современные устройства, включая IGBT,
GaN и SiC.
Модели
- PST6747Ai: высокая точность, ориентирована на НИОКР; отчеты тестов
... ГАН ФЕТ Особенность системы: - Комплект для тестирования GaN на базе тестовой платформы AccoTEST Standard STS8200 или STS8300 - До четырех участков тестирования по одному комплекту и макс. поддержка 2 тестовых комплектов с 8 участками ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo