Обзор продуктаСерия PST6747Ai — это система тестирования полупроводников для точного измерения и анализа статических параметров силовых полупроводниковых устройств. Поддерживает до 3 кВ (10 кВ опция) и 2200 A, быструю импульсную работу и обнаружение тока на уровне fA, что позволяет характеризовать современные устройства, включая IGBT, GaN и SiC.
Модели- PST6747Ai: высокая точность, ориентирована на НИОКР; отчеты тестов содержат подробные характеристические кривые и параметры.
- PST6747Ai-F: высокая точность для заводских испытаний перед поставкой; отчеты подходят для документации пользователя.
- PST6747Ai-L: стандартная точность для тестирования материалов/поставщиков; отчеты сопоставимы с отчетами производителя для упрощения сравнений.
Модульная конструкция и аппаратная частьСерия использует модульную архитектуру с независимыми высокоточными источниками, такими как P6701B (высоковольтный источник 3 кВ), P6703B (прецизионный источник) и P6705A (высокотоковый источник 2200 A). Каждый силовой модуль содержит два отдельных АЦП с частотой дискретизации 2 µs. Приводы модулей могут управляться независимо, а критические временные события контролируются с высокой точностью для фиксации времезависимых характеристик.
Программное обеспечение и управление даннымиПоставляемое ПО упрощает управление измерениями и данными; его можно настроить под рабочие процессы пользователя, поддерживается экспорт детализированных отчетов и журналов измерений.
ПрименениеПредназначено для измерения статических параметров силовых полупроводников и компонентов силовых схем. Типичные случаи использования: характеристика в НИОКР, заводское тестирование продукции и сравнение поставщиков/материалов для устройств IGBT, GaN, SiC.
Технические характеристики- Измерительное напряжение: до 3 кВ стандартно (10 кВ опционально).
- Измерительный ток: до 2200 A.
- Поддержка быстрых импульсных испытаний и обнаружения тока на уровне fA.
- Широкий диапазон измерения напряжения и тока, подходящий для современных силовых устройств.
- Модульная конструкция с независимыми высокоточными источниковыми модулями (например: P6701B, P6703B, P6705A).
- Два отдельных АЦП на силовой модуль с частотой выборки 2 µs.
- Независимое, точное управление приводом для каждого модуля; точный контроль временных параметров.
- Три доступные модели: PST6747Ai, PST6747Ai-F, PST6747Ai-L (отличаются точностью и целевым применением).
- Настраиваемое программное обеспечение для управления измерениями и данными.
- Применимо для тестирования IGBT, GaN, SiC и других перспективных силовых полупроводников.