＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
It is now even simpler to install a BA beam sampler into your optical system. The input and output sides on all BA16 models now include an SM1-threaded aperture and four M4-threaded holes compatible with 30-mm cage systems. MANAGE ...
Gentec Electro-Optics
Спектральный диапазон 350 - 1150 nm Минимальный измеряемый луч 55 μm Техника датчиков CMOS Количество пикселей 4.2 MPixels H x V 2048 x 2048 Определения диаметра луча D4σ (ISO compliant) 1/e2 along crosshairs (13.5%) FWHM ...
Gentec Electro-Optics
Спектральный диапазон 1495 - 1595 nm Минимальный измеряемый луч 70 μm Техника датчиков CMOS (with Phosphor Coating) Количество пикселей 4.2 MPixels H x V 2048 x 2048 Определения диаметра луча D4σ (ISO compliant) 1/e2 ...
Gentec Electro-Optics
Спектральный диапазон 350 - 1150 nm Коэффициент умножения пикселей (PMF) 1.8 typical Минимальный измеряемый луч 120 μm Техника датчиков CMOS (with Fiber Optic Taper) Количество пикселей 4.2 MPixels H x V 2048 x 2048 Определения ...
Gentec Electro-Optics
Бесконтактный профилометр для супер-мощных лазеров 980—1080 нм Описание: Запатентованная бесконтактная система профилирования BeamWatch точно снимает показатели промышленных многокиловаттных лазеров с длиной волны 980—1080 нм и ...
Ophir Optronics
Система профилирования пучков для автоматизированного производства Описание: BeamWatch Integrated — это полностью автоматизированная система измерения параметров лазерного излучения, предназначенная для интеграции измерения критических ...
Ophir Optronics
Описание: BeamWatch AM — это встраиваемая система измерения критических параметров лазерного излучения, предназначенная для систем аддитивного производства на основе лазерных технологий. BeamWatch AM выполняет одновременные измерения ...
Ophir Optronics
Описание: Профилометр ближнего поля использоваться для анализа малых пучков, когда изображение увеличивается линзой микрообъектива и проецируется на ПЗС матрицу. Профилирование ближнего поля используется при анализе волокон и волноводов, ...
Ophir Optronics
Duma Optronics
Duma Optronics
Duma Optronics
Duma Optronics
Duma Optronics
Duma Optronics
Duma Optronics
... Разработанная специально для микропроцессорных систем, система PRIMES MicroSpotMonitor-Compact (MSM-C) расширяет семейство систем анализа фокуса на основе камер, представляя собой компактную и модульную измерительную систему. Оптимизирована ...
... CAM SQUARED Измерительная система М2 "CAM SQUARED", новейший продукт компании Imagine Optic, предлагает точный и надежный анализ качества лазерного луча, ставя новые рекорды по скорости вычисления квадрата М и простоте по сравнению с ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось