Микроскопы для контроля качества Nikon Metrology

1 Компания | 5 товаров
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
микроскоп поляризатор
микроскоп поляризатор
ECLIPSE LV100N POL

Вес: 17 kg
Длина: 490 mm
Ширина: 251 mm

... Поляризационные микроскопы серии ECLIPSE LV100N POL и Ci-POL используются для изучения двулучепреломляющих свойств анизотропных образцов путем наблюдения за контрастом изображения и изменением цвета. Nikon предлагает ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
оптический микроскоп
оптический микроскоп
Eclipse LV100ND

Вес: 9,5 kg
Длина: 362 mm
Ширина: 251 mm

... на одной стойке микроскопа дополнительные методы оптического контраста благодаря модульной программе компонентов. Nikon ECLIPSE LV100NDA и LV100ND Эти микроскопы с эпископическим и диаскопическим освещением ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
металлографический микроскоп
металлографический микроскоп
ECLIPSE MA200

Увеличение : 1 unit - 100 unit
Длина: 295 mm
Ширина: 215 mm

... модульный инвертированный микроскоп с инновационной конструкцией бокса для эпископических оптических контрастных методов контроля в сочетании с аксессуарами для цифровой обработки изображений. Он идеально ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
металлографический микроскоп
металлографический микроскоп
Eclipse MA100N

Вес: 10 kg
Длина: 552 mm
Ширина: 229 mm

... гибкий, компактный, модульный инвертированный микроскоп для эпископических методов оптического контраста в сочетании с аксессуарами для цифровых камер обработки изображений. Он идеально подходит для контроля ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
оптический микроскоп
оптический микроскоп
Eclipse Ci-POL

Увеличение : 5 unit - 100 unit
Вес: 14 kg
Длина: 271 mm

... Поляризационные микроскопы серии ECLIPSE LV100N POL и Ci-POL используются для изучения двулучепреломляющих свойств анизотропных образцов путем наблюдения за контрастом изображения и изменением цвета. Nikon предлагает ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки