＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Ход: 205 mm - 270 mm
... Продукт
- Сканирующая платформа для инвертированных микроскопов
- Ход: 270 x 205 мм
- Шаг шарикового винта: 2 мм
- Предназначена для использования с NIKON NWL200 или NWL860
- В
Märzhäuser Wetzlar
Ход: 48 mm - 100 mm
... Обзор продукта
- Сканирующая платформа для перевернутых микроскопов, модель SCAN IM 100 x 100
- Ход: 100 x 100 мм (переключатель для уменьшения до 48 x 48 мм)
- Шаг шариковинта: 2 мм
- Проходное отверстие (clear aperture):
Märzhäuser Wetzlar
Ход: 45 mm - 100 mm
... b>
Прецизионный сканирующий
стол SCAN IM 100 x 45 для перевернутых микроскопов, разработан для материаловедческих задач и совместим с серией Leica DMI
Дополнительная информация
- сканирующий стол
Märzhäuser Wetzlar
Ход: 85 mm - 130 mm
... Описание продукта
- Сканирующая платформа для перевёрнутых микроскопов, для позиционирования по XY и сканирования образцов
- Ход: 130 x 85 мм
- Шаг шарико-винтовой пары: 2 мм
- Плоский эргономичный дизайн с закруглёнными
Märzhäuser Wetzlar
Ход: 85 mm - 130 mm
... Продукт
- SCANplus 130 x 85
Артикул
- 48-24-651-0000
Основные характеристики
- Сканирующая платформа для прямых микроскопов
- Ход: 130 x 85 мм
- Привод: шарико-винтовая
Märzhäuser Wetzlar
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки