Интерферометр для измерения плоскостности Verifire™ MST

для измерения длиныдля измерения толщиныоптический

Упростите сложное - несколько поверхностей создают сложные картины бахромы, Verifire™ MST использует запатентованную технологию сдвига длины волны для получения фазовых данных с нескольких поверхностей одновременно. Получайте ключевые метрики с отдельных поверхностей: параллельные окна, передаваемый волновой фронт, а также точную информацию с поверхности на поверхность, такую как изменение общей толщины (TTV), клин и даже неоднородность материала. Verifire™ MST решает сложные задачи, такие как стекло для дисплеев мобильных устройств, диски для хранения данных и полупроводниковые пластины, обеспечивая точную метрологию поверхности и изменения толщины для тестовых деталей толщиной до 0,5 мм Verifire™ MST обеспечивает высокоточные измерения формы поверхности и передаваемого волнового фронта оптических компонентов и систем линз. Это единственная коммерческая интерферометрическая система, которая может измерять несколько поверхностей одновременно, сохраняя относительную информацию о поверхности и обеспечивая быстрое и простое получение результатов с нескольких поверхностей. - Одновременное определение характеристик поверхности и волнового фронта, а также точная метрология поверхности между поверхностями, например, TTV и клин - Квалификация поверхности и толщины тестовых деталей толщиной до 0,5 мм - Широкий диапазон бокового разрешения, включая оптические конструкции с ограничением пикселей для обеспечения оптимального ITF - 1.2k x 1.2k (включает дискретную турель для оптического увеличения до 3X) - 2.3k x 2.3k - 3,4k x 3,4k