Электронный сканирующий микроскоп ZEISS EVO

для лабораторийдля анализа материаловдля контроля качества

В области промышленного качества, анализа неисправностей или исследований сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) является оптимальным решением для металлографии и анализа неисправностей благодаря своей способности получать изображения с высоким разрешением и химическому составу элементов с высоким пространственным разрешением. Разработанный специально для рутинного контроля и анализа, EVO может управляться как экспертными, так и неэкспертными электронными микроскопами с помощью специального, упрощенного графического интерфейса пользователя. Он обеспечивает высокое качество данных, особенно для непроводящих деталей, которые не могут быть покрыты токопроводящим слоем из-за необходимости последующей проверки. EVO может быть легко интегрирована в мультимодальный рабочий процесс благодаря таким функциям, как полуавтоматическое перемещение интересующих регионов и решения по обеспечению целостности данных - между системами, лабораториями и даже местоположениями. SmartPI - автоматизированное, соответствующее стандартам автоматизированное решение ZEISS для анализа частиц методом SEM, позволяющее проводить классификацию частиц на основе элементного состава, реализованное на базе EVO в качестве готового решения для промышленной чистоты. Благодаря широкому выбору размеров камер, вакуумных систем, типов электронных излучателей и аналитических опций, EVO может быть подобран в соответствии с любыми требованиями по соотношению цены и качества.