Сфокусированный ионный пучок ZEISS Crossbeam 340 & 540

Поперечина ZEISS 340 и поперечина 540 - это FIB-SEM, предназначенные для нанотомографии и нанообработки. С помощью перекрестной балки можно связать визуализацию и аналитические характеристики колонны GEMINI для подготовки образцов и обработки материалов в наноскопическом масштабе. Для ускорения нанотомографии и наноизготовления можно использовать SEM с токами FIB до 100 нА в сочетании с низкими значениями кВ. Он имеет легкий для понимания графический интерфейс пользователя, а максимальная стабильность и стандартный профиль луча делают устройство более надежным во время сложных и длительных экспериментов.