Спектрометр EDXRF Genius IF

для металлургической промышленностиэкономичныйнастольный

Стенд верхней EDXRF спектрометр с вторичными целями EDXRF спектрометр Xenemetrix Genius IF (Secondary Targets) предлагает экономичное решение на современном рынке элементного анализа. Анализатор обеспечивает неразрушающее качественное и количественное определение от Carbon(6) до Fermium(100), обеспечивая пределы обнаружения от субпроцентных до высоких концентраций веса. Genius IF имеет мощные компоненты, в том числе: Полностью интегрированная компьютерная система Дрейфующий детектор Сликона с высоким разрешением Мощная рентгеновская трубка с переменным размером пятна, разработанная для размещения образцов различных размеров Восемь вторичных целей и восемь настраиваемых трубчатых фильтров для быстрого и точного определения следов и мелких элементов Genius IF также может работать в классическом режиме прямого возбуждения. Силиконовый дрейфовый детектор (SDD): Кремниевый дрейфовый детектор обеспечивает высокую скорость счета, улучшенное разрешение, до 125eV и быстрое время отклика, чтобы свести к минимуму время простоя в работе. SDD LE- Ultra - Ультратонкое окно детектора обеспечивает превосходную производительность для анализа низких Z элементов. Вторичные цели: Genius IF имеет уникальную запатентованную геометрию, объединяющую восемь вторичных мишеней, с восемью настраиваемыми трубчатыми фильтрами, используемыми в режиме прямого возбуждения, для обеспечения оптимального возбуждения всех элементов, которые могут быть обнаружены в EDXRF. Запатентованная WAG (Широкоугольная геометрия) технология вторичных мишеней обеспечивает наилучшие результаты для анализа основных, мелких и микроэлементных элементов.