Спектрометр с рентгеновским излучением JB-EDX8800

XRFдля спектрального анализадля сбора данных

EDX8800E поглощает все преимущества серии EDX и дополнительно оснащен вакуумной системой, что позволяет расширить диапазон тестирования, улучшить предел обнаружения и повысить стабильность данных. Особенности продукта : 1.Кремниевый детектор тяги, импортированный из Америки, с более высоким энергетическим разрешением значительно улучшает обнаружение. 2.Предел содержания световых элементов в 100 раз выше, чем у Si-контактного детектора. Область измерений шире, что позволяет почти полностью соответствовать требованиям элементного анализа всех обычных материалов. 3.Интегрированная система обработки данных, импортированная из Америки, делает сбор данных более быстрым, измерения более стабильными с отличной повторяемостью и долговременной стабильностью. 4.Современное программное обеспечение, интегрирующее несколько методов вычисления изображений, делает измерение данных более точным и стабильным. 5.Программное обеспечение полностью контролирует работу основных деталей, обеспечивая безопасную эксплуатацию. 6.Специализированная вакуумная система обеспечивает более высокий уровень вакуума и превосходные результаты тестирования. Измеримые элементы - Na-U Содержание элементов - 1ppm-99.99% Предел обнаружения - 1ppm Время измерения - 60-200с (регулируемое) Питание - AC220±5V Максимальный выходной ток рентгеновской трубки - 1 мА Предельное давление - 6,7×10-2 Па Типоразмер опытной камеры - 610*320*100(мм) (без вакуума)/Φ100*h75(мм) (Вакуум) Долгосрочная стабильность работы (при условии наличия стандартного образца) - ±0,05% (высокое содержание) /±0,002% (микроконтент) Отличная воспроизводимость (в зависимости от стандартного образца) - 0,06%((высокое содержание)/±0,0025%(микроконтент))